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Vernehmlassung 2026/36: Totalrevision der Verordnung des EJPD über Messmittel für ionisierende Strahlung (StMmV) und Teilrevision der Verordnung über die Eich- und Kontrollgebühren im Messwesen (EichGebV) · 56 Seiten

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Verordnung des EJPD über Messmittel für ionisierende Strahlung «%ASFF_YYYY_ID»

– weitere Parameter, wie insbesondere relevante Konfigurationsparameter;

– Referenzdokument des Qualitätsmanagementsystems für die Durchführung der Prüfung.

3.2.4 Die Fehlergrenzen bei der Prüfung betragen ± 20 %.

3.2.5 Liegt die Messabweichung ausserhalb der vorgeschriebenen Fehlergrenzen,

so ist der mobile Oberflächenkontaminationsmonitor einer Nacheichung oder Kalibrierung zu unterziehen.

3.3 Kalibrierung

3.3.1 Dem mobilen Oberflächenkontaminationsmonitor müssen für die Kalibrie-

rung eine Bedienungsanleitung mit technischer Beschreibung und eine Liste der Nuklide, für die das Gerät zu kalibrieren ist, beiliegen.

3.3.2 Die Kalibrierung deckt mindestens die für den vorgesehenen Einsatz notwen-

digen Messbereiche und Nuklide ab. Die Kalibrierung umfasst zudem die Prüfung der Funktionstüchtigkeit der Grundfunktionen des mobilen Oberflächenkontaminationsmonitors.

3.3.3 Die Kalibrierung ist durch ein gemäss ISO/IEC 17025:201721 akkreditiertes

Kalibrierlabor durchzuführen. In begründeten Fällen kann die zuständige Aufsichtsbehörde im Strahlenschutz oder das BABS auch eine Kalibrierung des Geräteherstellers oder der Verwenderin akzeptieren.

3.3.4 Das Kalibrierverfahren richtet sich nach der Norm ISO 7503-3:201622.

3.3.5 Die Messungen werden unter den an einem Arbeitsplatz üblichen Bedingun-

gen ausgeführt; die Ergebnisse werden, wenn nötig, auf Normalbedingungen von Druck und Temperatur korrigiert. Der Untergrund muss dem der natürlichen Strahlung entsprechen.

3.3.6 Die Referenzgrösse ist die RWZ. Diese Grösse muss nach folgender Formel

berechnet werden: RWZ = CS · W · Σj (εi,j · εd,j · εs,j), wobei:

– εi,j: Empfindlichkeit oder Oberflächenemissions-Ansprechvermögen eines Geräts für die Strahlenart j;

– εd,j: Emissionshäufigkeit eines gegebenen Nuklids für die Strahlenart j;

– εs,j: Oberflächenemissionsrate einer Kontaminationsquelle dividiert durch die Erzeugungsrate von Partikeln oder Photonen der gleichen Strahlenart j mit εs = 0,5 für γ-Quellen sowie für β-Quellen mit mittlerer Energie Emittel ≥ 140 keV εs = 0,25 für β-Quellen mit 40 keV < Emittel < 140 keV und für α-Quellen;

21 ISO/IEC 17025:2017, General requirements for the competence of testing and calibration laboratories. Die Norm kann beim Eidgenössischen Institut für Metrologie, 3003 Bern, kostenlos eingesehen oder gegen Bezahlung bezogen werden bei der Schweizerischen Normen-Vereinigung (SNV), Sulzerallee 70, 8404 Winterthur; www.snv.ch.

22 ISO 7503-3:2016, Measurement of radioactivity — Measurement and evaluation of surface contamination — Part 3: Apparatus calibration. Die Norm kann beim Eidgenössischen Institut für Metrologie, 3003 Bern, kostenlos eingesehen oder gegen Bezahlung bezogen werden bei der Schweizerischen Normen-Vereinigung (SNV), Sulzerallee 70, 8404 Winterthur; www.snv.ch.